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DSP C2000嵌入式实验箱:TL28335-TEB
产品系列:C2000
匹配课程:《DSP技术与应用》
处理器架构:DSP
实验箱简介
软硬件参数
开发资料
电气特性
实验箱机械尺寸
实验箱套件清单
附录A 教学实验
附录B 开发例程
技术支持
增值服务
实验箱简介
基于TI TMS320F28335浮点DSP C28x控制器,主频150MHz;
可拆式新型实验箱,使用灵活,性价比高。由核心板、实验开发底板、仿真器、3寸全功能触摸彩屏信号源及相关实验配件组成,可选4.3寸可触摸电阻屏;
实验主板支持:I2C、SPI、CAN、PWM、RTC、以太网口、音频输入输出接口、多通道AD、DA、RS232、RS485、LCD等接口和蜂鸣器、红外接收器、继电器、LED等外设;
实验拓展板支持:步进电机、直流电机(配霍尔传感器)、减速电机、4*4矩阵键盘、数码管、十字交通灯、温湿度传感器、可调直流电压输出;
实验拓展板上支持安装可拆卸亚克力保护板,保护实验电路;
工业级核心板,尺寸为66mm*39mm,采用排针接口连接,可用于科学研究、毕业设计、电子竞赛、产品开发使用;
不仅提供面向教学的实验资源,而且提供工程应用上的开发例程;
适用于测控、自动化、工业控制、电力控制等教学领域。
TL28335-TEB实验箱外观图
TL28335-TEB实验箱整体图
TL28335-TEB实验箱主体正面图
实验主板正面图
实验拓展板正面图
仿真器侧视图
信号源侧视图
TL28335-TEB是创龙一款基于TI TMS320F28335浮点DSP处理器的可拆式新型嵌入式教学实验箱,提供了丰富的教学实验例程,适合高校以及研究所等实验机构;
可拆式DSP实验箱TL28335-TEB提供的实验指导手册包括实验目的、原理、步骤及源码解析等,注重实验的过程,内容详实且丰富,可以帮助学生打好专业基础,也有利于教师教学计划的开展;
此外,实验箱提供的工程资源开发例程可以用于师生项目开发,降低开发难度和时间成本。相对传统的实验箱,使用更加灵活,用途更广,性价比更高。
软硬件参数
硬件框图
实验主板硬件资源图解1
实验主板硬件资源图解2
实验拓展板硬件资源图解1
实验拓展板硬件资源图解1
TL28335-TEB实验箱结构图
硬件参数
- 实验主板硬件参数 -
CPU | TI TMS320F28335浮点DSP,主频150MHz |
ROM | 片内256Kx16bit,外扩512Kx16bit NOR FLASH |
RAM | 片内34Kx16bit,外扩256Kx16bit SRAM |
EEPROM | 2Kbit,AT24C02C |
B2B Connector | 2x 80pin排针,共160pin,间距1.27mm |
LED | 2x电源LED(底板1个,核心板1个) |
6x用户LED(底板4个,核心板2个) | |
KEY | 3x用户可编程按钮,1x系统复位按钮 |
JTAG | Debug,14pin TI Rev B JTAG座,间距2.54mm |
eCAN | 2x eCAN,3pin接线端子,间距3.81mm |
DAC | 外扩单通道10bit DAC,1.21MHz更新速率,量程范围0-5V,2pin接线端子,间距2.54mm |
ADC | 片上2个8通道 12bit ADC,共16通道,量程范围0-3V,10pin接线端子,间距2.54mm |
IRM | 1x HX1838 |
BOOT SET | 1x 4bit启动开关 |
UART | 1x UARTA,烧写串口,提供4针TTL电平测试端口 |
1x UARTB,USB转串口,提供4针TTL电平测试端口 | |
1x UARTC,RS232,DB9接口,提供4针TTL电平测试端口 | |
1x RS485,3pin接线端子,间距3.81mm,与UARTC接口复用 | |
SD | 1x MicroSD卡座 |
BUZZER | 1x无源蜂鸣器 |
RELAY | 1x 5V继电器 |
MOTOR INTERFACE | 1x五线四相步进电机的5pin接线端子,间距2.54mm |
1x 5V直流电机的2pin接线端子,间距2.54mm | |
AUDIO | 1x LINE IN,3.5mm音频座 |
1x LINE OUT,3.5mm音频座 | |
1x MIC IN,3.5mm音频座 | |
RTC | 1x RTC,CR1220纽扣电池座 |
Ethernet | 1x 10M/100M以太网,RJ45连接器 |
IO | ePWM、GPIO等信号,2x10pin排针,间距2.54mm |
eQEP、SPI、I2C、GPIO等信号,2x10pin排针,间距2.54mm | |
XINTF、UART、I2C、GPIO等信号,2.54mm,2x25pin简易牛角座 | |
LCD | 1x 1602液晶屏接口,16pin排母,间距2.54mm |
1x 12864液晶屏接口,20pin排母,间距2.54mm | |
1x 4.3寸TFT触摸屏接口,2x17pin排针,间距2.54mm | |
POWER | 1x 5V 2A直流输入,DC-005电源接口 |
- 实验拓展板硬件参数 -
KEY | 1x 4*4矩阵按键 |
TRAFFIC LIGHT | 1x十字交通灯 |
NIXIE TUBE | 1x四位八段数码管 |
MOTOR | 1x五线四相步进电机 |
2x直流电机,带霍尔传感器测速功能 | |
1x减速直流电机,带正交编码器输出测速功能 | |
SENSOR | 1x温湿度传感器 |
POWER OUTPUT | 1x 0~3V可调直流电压输出 |
- 仿真器参数 -
型号 | XDS100V2 |
调试功能 | 连接/断开,读/写内存,读取寄存器,加载程序,运行、停止步骤,支持断点调试,实时模式 |
JTAG复位 | 支持 |
ETB(Embedded Trace Buffer) | 支持 |
目标电缆断开检测 | 支持 |
目标芯片掉电检测 | 支持 |
USB 2.0高速(480Mbit/s) | 支持 |
20pin/14pin JTAG接口 | 支持 |
1.8V与3.3V IO | 支持 |
支持版本 | CCS4、CCS5、CCS6或更高版本,不支持CCS3.3及更低版本 |
- 信号源参数 -
屏幕分辨率 | 240*400 | |
操控方式 | 可触摸彩色液晶屏 | |
波形特性 | 标准波形 | 正弦波,方波,三角波,升锯齿,降锯齿,SINC,噪声,升指数,降指数,正全波,负全波,正半波,负半波,高斯函数,直流 |
采样率 | 80MS/s | |
垂直分辨率 | 14bit | |
任意波点数 | 2~32K | |
内置存储 | 128M | |
频率特性 | 输出范围 | 正弦波为1mHz~10MHz,方波为1mHz~10MHz,其他为1mHz~1MHz |
分辨率 | 1mHz | |
精度 | 50ppm | |
电压特性 | 输出范围 | 10mVpp~10Vpp |
分辨率 | 12bit | |
准确度 | 设定值8% | |
偏置范围 | ||
幅度平坦度 | 优于0.3dB | |
方波特性 | 方波占空比 | 1mHz~1MHz为0.1%~99.9%;1MHz~10MHz为固定50% |
上升/下降沿 | <20ns | |
过冲 | <5% | |
其他特性 | 输出阻抗 | 50欧姆 |
斜波对称度 | 0.1%~99.9% | |
同步信号 | 4.8V~5.2V,TTL电平 | |
电源需求 | 直流4.75V~5.25V,<400mA | |
显示特性 | 3寸 | |
尺寸 | 116mm*76mm*26mm(长宽高) | |
重量 | 180g |
软件参数
DSP端软件支持 | 裸机 |
CCS版本号 | CCS5.5 |
开发资料
创龙提供了大量的开发资料,创造了TMS320F28335平台开发的新局面,已成为TMS320F28335开发者的重要合作企业。
教学资源
提供完整的实验代码,以及适合教学的《教学实验指导手册》。
目录详见附录A,教学实验主要包括:
· DSP实验环境搭建与CCS开发基础
· DSP基础外设实验
· 语音类实验
· DSP算法实验
· 图像类实验
工程资源
提供核心板和底板原理图、可编辑底板PCB和芯片Datasheet,缩短硬件设计周期;
提供系统源码,以及丰富的Demo程序;
提供完整的平台开发包、入门教程,节省软件整理时间,上手容易。
工程开发例程详见附录B,开发例程主要包括:
· 基于DSP端的裸机开发例程
电气特性
核心板工作环境
环境参数 | 最小值 | 典型值 | 最大值 |
---|---|---|---|
工业级温度 | -40℃ | / | 85℃ |
工作电压 | / | 5V | / |
实验主板功耗测试
类别 | 典型值电压 | 典型值电流 | 典型值功耗 |
核心板 | 4.97V | 261mA | 1.29W |
实验主板 | 5.06V | 560mA | 2.82W |
备注:功耗测试基于广州创龙TL28335-EVM开发板进行。
实验箱机械尺寸
名称 | 长 | 宽 | 高 |
---|---|---|---|
实验箱箱体 | 480MM | 350MM | 175MM |
实验主板 | 185MM | 135MM | / |
实验拓展板 | 185MM | 135MM | / |
实验箱套件清单
名称 | 数量 |
TL28335-TEB实验主板 | 1块 |
TL28335-TEB实验拓展板 | 1块 |
信号源 | 1个 |
TL-XDS100V2仿真器 | 1个 |
12V 2A电源适配器 | 1个 |
实验箱资料光盘 | 2套 |
1602 液晶屏 | 1个 |
12864液晶屏 | 1个 |
RS232交叉串口母母线 | 1条 |
USB转RS232串口线 | 1条 |
Micro USB线 | 1条 |
网线 | 1根 |
红外遥控器 | 1个 |
音频线 | 1根 |
RS485转串口模块 | 1个 |
usb转uart串口隔离模块 | 1个 |
耳机 | 1个 |
杜邦线 | 若干 |
导线 | 若干 |
SD卡 | 1个 |
读卡器 | 1个 |
附录A 教学实验
DSP实验环境搭建与CCS开发基础 | 安装CCS与串口调试工具 |
CCS开发入门 | |
基于CCS仿真调试、程序加载与烧写 | |
CCS工程新建、编译和导入 | |
编写基于C语言的DSP程序 | |
DSP基础外设实验 | LED灯控制及寄存器配置实验 |
按键与4x4键盘输入控制实验(按键中断输入) | |
LCD触摸屏触控与显示实验 | |
液晶LCD12864测试实验 | |
液晶LCD1602测试 | |
RS485测试实验 | |
红外遥控测试 | |
ECAN内部回环与数据通信测试实验 | |
DMA在RAM内外搬移数据实验 | |
EPWM测试实验 | |
单精度浮点运算实验 | |
UART串口收发实验 | |
高精度脉冲宽度调制器PWM输出测试实验 | |
定时器/计数器控制实验 | |
模数转换(A/D)测试实验 | |
数模转换(D/A)测试实验 | |
直流电机控制实验 | |
步进电机控制实验 | |
网络通讯实验 | |
PID闭环控制电机实验 | |
语音类实验 | 音频采集与播放测试实验 |
G711A音频编解码实验 | |
DSP算法实验 | 有限冲激响应滤波器(FIR)算法 |
无限冲激响应滤波器(IIR)算法 | |
快速傅立叶变换(FFT)算法 | |
图像类实验 | 灰度图像直方图 |
直方图均衡化 | |
图像反色 | |
边缘检测 |
附录B 开发例程
- 裸机开发例程 -
例程 | 功能 |
ADC_DMA | DMA方式存取ADC转换结果 |
ADC_SEQ_OVD_TEST | ADC序列覆盖模式采样 |
ADC_SOC | PWM1周期触发AD转换 |
ADC_SQE_MODE | ADC顺序采样测试 |
AUDIO_LINE_IN | 音频Line In测试 |
AUDIO_LINE_OUT | 音频Line Out测试 |
AUDIO_MIC_IN | 音频Mic In测试 |
BUZZER | 蜂鸣器测试 |
CPU_TIMER | 定时器演示 |
DAC | DAC电压输出测试 |
DC_MOT | 直流电机测试 |
DMA_RAM_TO_RAM | DMA在RAM内搬移数据 |
DMA_XINTF_TO_RAM | DMA在内外部RAM搬移数据 |
ECAN_A_TO_B | ECANA与ECANB间的数据通信测试 |
ECAN_BACK_TO_BACK | ECAN内部回环测试 |
ECAP_CAPTURE_PWM | ECAP配置为PWM输出 |
ECAP_EPWM | ECAP捕捉EPWM |
ECAP_REMOTE | 红外遥控测试 |
EEPROM | EEPROM存储器测试 |
EPWM_DEADBAND | EPWM死区演示 |
EPWM_DMA | EPWM触发DMA传输 |
EPWM_TIMER_INTERRUPTS | EPWM定时器中断 |
EPWM_TRIP_ZONE | EPWM故障区演示 |
EPWM_UP_AQ | EPWM向上计数 |
EPWM_UPDOWM_AQ | EPWM向上向下计数 |
EQEP_FREQCAL | 增强型正交编码脉冲单元测量EPWM频率 |
EQEP_POS_SPEED | 增强型正交编码脉冲单元测量EPWM频率 |
EXT_INT | 外部中断 |
FPU_HARDWARE | 单精度浮点运算硬件实现 |
FPU_SOFTWARE | 单精度浮点运算软件实现 |
HRPWM | 高分辨率PWM |
HRPWM_SFO | 高分辨率pwm用SFO实现周期计数递增 |
HRPWM_SFO_V5 | 高分辨率PWM占空比调节 |
HRPWM_SLIDER | 高分辨率PWM滚动条调整MEP |
KEY_LED | 按键中断LED测试 |
LCD_TFT | 4.3寸TFT屏测试 |
LCD1602 | 液晶LCD1602测试 |
LCD12864 | 液晶LCD12864测试 |
LED | LED流水灯测试 |
NOR_FLASH | NOR FLASH存储器测试 |
RELAY | 继电器测试 |
RTC | RTC实时时钟测试 |
SCIA | 串口A测试(TTL电平) |
SCIB | 串口B测试 |
SCIC_RS485 | 串口C(RS485)测试 |
SRAM | SRAM存储器测试 |
SD_FAT32 | MicroSD卡测试 |
STEP_MOT | 步进电机测试 |
TOUCH | 4.3寸TFT屏触摸测试 |
DC_DEAR_MOT | 减速直流电机测试 |
DHT11 | 温湿度传感器测试 |
MATRIX_KEY | 4*4矩阵键盘测试 |
NIXIE_TUBE | 数码管测试 |
TRAFFIC_LIGHT | 交通灯测试 |
技术支持
01
协助底板设计和测试,减少硬件设计失误;
02
协助解决按照用户手册操作出现的异常问题;
03
协助产品故障判定;
04
协助正确编译与运行所提供的源代码;
05
协助进行产品二次开发;
06
提供长期的售后服务。
增值服务
主板定制设计
核心板定制
嵌入式软件开发
项目合作开发
技术培训
资料名称 | 更新时间 | 操作 |
---|---|---|
TL28335-TEB实验箱规格书.pdf | 2022-09-21 |
资料名称 | 更新时间 | 操作 |
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TL28335-TEB实验箱产品资料 | 2022-09-14 |
产品演示
产品操作